Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 8
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-19(2003)/Amd.1(2010)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг. Изменение 1
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength. Amendment 1
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749-19(2003)
- Дата опубликования
- 28.07.2010
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 8
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- A