Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 36
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62374-1(2010)
- Заглавие на русском языке
- Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
- МКС
- 31.080
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 29.09.2010
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 36
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- D