IEC

IEC 60749-34(2010)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-34(2010)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-34(2004)
Дата опубликования
28.10.2010
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
26
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
C