Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 18
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-19(2010)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Примечание
- Объединенное издание содержит IEC 60749-19(2003), IEC 60749-19(2003)/Amd.1(2010)
- Дата опубликования
- 29.11.2010
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 18
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.1
- Статус
- Действует
- Код цены
- CB