IEC

IEC 62047-8(2011)

Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
40

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-8(2011)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
14.03.2011
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
40
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E