Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 22
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-23(2011)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-23(2025)
- Примечание
- Объединенное издание содержит IEC 60749-23(2004), IEC 60749-23(2004)/Amd.1(2011)
- Дата опубликования
- 30.03.2011
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 22
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.1
- Статус
- Заменен
- Код цены
- CD