Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 14
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-30(2005)/Amd.1(2011)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность. Изменение 1
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing. Amendment 1
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-30(2020)
- Обозначение заменяемого в части
- IEC 60749-30(2005)
- Дата опубликования
- 25.05.2011
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 14
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- B