IEC

IEC 60749-40(2011)

Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформаций

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
48

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-40(2011)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформаций
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
13.07.2011
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
48
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
F