IEC

IEC 62047-10(2011)

Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-10(2011)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяющего в части
IEC 62047-10(2011)/Cor.1(2012)
Дата опубликования
26.07.2011
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
26
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
C