IEC

IEC 62047-12(2011)

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
64

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-12(2011)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
13.09.2011
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
64
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
G