IEC

IEC 62047-14(2012)

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
38

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-14(2012)
Заглавие на русском языке
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
28.02.2012
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
38
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E