IEC

IEC 60749-27(2012)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Механическая модель

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
30

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-27(2012)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Механическая модель
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Примечание
Объединенное издание содержит IEC 60749-27(2006), IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012)
Дата опубликования
25.09.2012
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
30
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.1
Статус
Действует
Код цены
CG