IEC

IEC 62276(2012)

Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и методы измерения

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
86

Подробная информация

Обозначение
IEC 62276(2012)
Заглавие на русском языке
Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и методы измерения
Заглавие на английском языке
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
МКС
31.140
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 62276(2005)
Обозначение заменяющего
IEC 62276(2016)
Дата опубликования
19.10.2012
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
86
ТК – разработчик стандарта
TC 49
Номер издания
2.0
Статус
Заменен