IEC

IEC 60749-26(2013)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого тела

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
96

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-26(2013)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого тела
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-26(2006)
Обозначение заменяющего
IEC 60749-26(2018)
Дата опубликования
23.04.2013
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
96
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
3.0
Статус
Заменен
Код цены
J