IEC

IEC 62047-22(2014)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-22(2014)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
19.06.2014
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
24
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
C