IEC

IEC 62047-21(2014)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
30

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-21(2014)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
19.06.2014
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
30
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D