IEC

IEC 60749-42(2014)

Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
20

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-42(2014)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
12.08.2014
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
20
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B