IEC

IEC 62047-17(2015)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
58

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-17(2015)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
05.03.2015
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
58
ТК – разработчик стандарта
SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
G