IEC

IEC 62047-26(2016)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
62

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-26(2016)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
07.01.2016
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
62
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
G