Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 46
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-44(2016)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 27.07.2016
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 46
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F