IEC

IEC 60749-6(2017)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
12

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-6(2017)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-6(2002), IEC 60749-6(2002)/Cor.1(2003)
Дата опубликования
03.03.2017
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
12
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
B