Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 16
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-3(2017)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC 60749-3(2002), IEC 60749-3(2002)/Cor.1(2003)
- Дата опубликования
- 03.03.2017
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 16
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 2.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- C