IEC

IEC 60749-28(2017)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Испытание на чувствительность к электростатическим разрядам. Модель заряженного устройства (CDM). Уровень устройства

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Основные сведения

Статус
Заменен
Количество страниц
48

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-28(2017)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Испытание на чувствительность к электростатическим разрядам. Модель заряженного устройства (CDM). Уровень устройства
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяющего
IEC 60749-28(2022)
Дата опубликования
28.03.2017
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
48
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Заменен
Код цены
J