IEC

IEC 62951-1(2017)

Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб тонких проводящих пленок на гибких подложках

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
20

Подробная информация

Обозначение
IEC 62951-1(2017)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб тонких проводящих пленок на гибких подложках
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
10.04.2017
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
20
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D