Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 14
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-5(2017)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяемого(ых)
- IEC 60749-5(2003)
- Обозначение заменяющего
- IEC 60749-5(2023)
- Дата опубликования
- 10.04.2017
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 14
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 2.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- C