Основные сведения
- Статус
- Заменен
- Количество страниц
- 78
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-43(2017)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Обозначение заменяющего
- IEC 63287-1(2021)
- Дата опубликования
- 15.06.2017
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 78
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Заменен
- Код цены
- H