Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 28
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62880-1(2017)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 23.08.2017
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 28
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F