IEC

IEC 62047-30(2017)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
24

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-30(2017)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
МКС
31.080.99, 31.140
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
15.09.2017
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
24
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E