IEC

IEC/TR 63133(2017)

Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
22

Подробная информация

Обозначение
IEC/TR 63133(2017)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
11.10.2017
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
22
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E