IEC

IEC 60749-13(2018)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
32

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-13(2018)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-13(2002), IEC 60749-13(2002)/Cor.1(2003)
Дата опубликования
15.02.2018
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
32
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
D