IEC

IEC 62047-32(2019)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 32. Метод определения нелинейных колебаний резонаторов микроэлектромеханических систем (MEMS)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
37

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-32(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 32. Метод определения нелинейных колебаний резонаторов микроэлектромеханических систем (MEMS)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
24.01.2019
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
37
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E