Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 25
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 63068-2(2019)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 2. Метод определения дефектов с помощью оптического неразрушающего контроля
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
- МКС
- 31.080.99
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 30.01.2019
- Язык оригинала
- английский
- Количество страниц оригинала
- 25
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F