IEC

IEC 60749-17(2019)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
17

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-17(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-17(2003)
Дата опубликования
28.03.2019
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
17
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
C