IEC

IEC 62047-34(2019)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 34. Методы испытаний на пластине пьезорезистивных пневмодатчиков микроэлектромеханических систем (MEMS)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-34(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 34. Методы испытаний на пластине пьезорезистивных пневмодатчиков микроэлектромеханических систем (MEMS)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
МКС
31.080.99; 31.140
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
05.04.2019
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
16
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D