IEC

IEC 60749-18(2019)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
44

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-18(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-18(2002)
Дата опубликования
10.04.2019
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
44
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
F