IEC

IEC 62047-36(2019)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)

Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
16

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-36(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
МКС
31.080.99; 31.140
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
05.04.2019
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
16
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D