IEC

IEC 63150-1(2019)

Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация

Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
74

Подробная информация

Обозначение
IEC 63150-1(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
10.05.2019
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
74
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
H