IEC

IEC 62047-35(2019)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств

Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
41

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-35(2019)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
22.11.2019
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
41
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
F