IEC

IEC 62047-37(2020)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 37. Климатические испытания пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS), используемых в датчиках

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
34

Подробная информация

Обозначение
IEC 62047-37(2020)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 37. Климатические испытания пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS), используемых в датчиках
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
МКС
31.080.99, 31.140
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
28.04.2020
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
34
ТК – разработчик стандарта
TC 47/SC 47F
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E