Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 44
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 62373-1(2020)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Испытание на стабильность при отклонении температуры полевых транзисторов со структурой металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Часть 1. Ускоренное BTI испытание для MOSFET
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
- МКС
- 31.080.30
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 15.07.2020
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 44
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F