Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 44
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 60749-41(2020)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытания надежности энергонезависимых запоминающих устройств
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 22.07.2020
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 44
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- F