IEC

IEC 60749-30(2020)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
26

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-30(2020)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-30(2005)
Дата опубликования
17.08.2020
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
26
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
D