IEC

IEC 62788-1-4(2016)/Amd.1(2020)

Методы оценки свойств материалов, используемых при изготовлении фотоэлектрических модулей. Часть 1-4. Материалы-заполнители. Измерение коэффициента оптического пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания солнечного излучения, показателя пожелтения и критической длины волны УФ-излучения. Изменение 1

Measurement procedures for materials used in photovoltaic modules - Part 1-4: Encapsulants - Measurement of optical transmittance and calculation of the solar-weighted photon transmittance, yellowness index, and UV cut-off wavelength. Amendment 1

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
13

Подробная информация

Обозначение
IEC 62788-1-4(2016)/Amd.1(2020)
Заглавие на русском языке
Методы оценки свойств материалов, используемых при изготовлении фотоэлектрических модулей. Часть 1-4. Материалы-заполнители. Измерение коэффициента оптического пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания солнечного излучения, показателя пожелтения и критической длины волны УФ-излучения. Изменение 1
Заглавие на английском языке
Measurement procedures for materials used in photovoltaic modules - Part 1-4: Encapsulants - Measurement of optical transmittance and calculation of the solar-weighted photon transmittance, yellowness index, and UV cut-off wavelength. Amendment 1
МКС
27.160
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого в части
IEC 62788-1-4(2016)
Дата опубликования
15.10.2020
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
13
ТК – разработчик стандарта
TC 82
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
B