IEC

IEC 63229(2021)

Приборы полупроводниковые. Классификация дефектов в эпитаксиальной пленке из нитрида галлия на карбидокремниевой подложке

Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
21

Подробная информация

Обозначение
IEC 63229(2021)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Классификация дефектов в эпитаксиальной пленке из нитрида галлия на карбидокремниевой подложке
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
07.04.2021
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
21
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
F