Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 86
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 63287-1(2021)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Общее руководство по оценке надежности полупроводниковых приборов. Часть 1. Руководство по оценке надежности интегральных схем
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
- МКС
- 31.080.01
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 25.08.2021
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 86
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- J