IEC

IEC 60749-28(2022)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Проверка чувствительности к электростатическому заряду. Модель заряженного устройства. Уровень устройства

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
102

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-28(2022)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Проверка чувствительности к электростатическому заряду. Модель заряженного устройства. Уровень устройства
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Обозначение заменяемого(ых)
IEC 60749-28(2017)
Дата опубликования
01.03.2022
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
102
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
J