Основные сведения
- Статус
- Действует
- Количество страниц
- 25
Подробная информация
- Обозначение
- IEC 63284(2022)
- Заглавие на русском языке
- Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность нитридгаллиевых транзисторов путем переключения индуктивной нагрузки
- Заглавие на английском языке
- Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
- МКС
- 31.080.30
- Вид стандарта
- ST
- Дата опубликования
- 21.04.2022
- Язык оригинала
- английский;французский
- Количество страниц оригинала
- 25
- ТК – разработчик стандарта
- TC 47
- Номер издания
- 1.0
- Статус
- Действует
- Код цены
- D