IEC

IEC 60749-37(2022)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на удар на уровне печатных плат с помощью акселерометра

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
43

Подробная информация

Обозначение
IEC 60749-37(2022)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на удар на уровне печатных плат с помощью акселерометра
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
12.10.2022
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
43
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
2.0
Статус
Действует
Код цены
F