IEC

IEC 62951-9(2022)

Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R)

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
18

Подробная информация

Обозначение
IEC 62951-9(2022)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
МКС
31.080.99
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
14.12.2022
Язык оригинала
английский
Количество страниц оригинала
18
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
E