IEC

IEC 63287-2(2023)

Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Основные сведения

Статус
Действует
Количество страниц
30

Подробная информация

Обозначение
IEC 63287-2(2023)
Заглавие на русском языке
Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
МКС
31.080.01
Вид стандарта
ST
Дата опубликования
29.03.2023
Язык оригинала
английский;французский
Количество страниц оригинала
30
ТК – разработчик стандарта
TC 47
Номер издания
1.0
Статус
Действует
Код цены
D